Deep traps in unpassivated and Sc2O3-passivated AlGaN-GaN high electron mobility transistors

Gespeichert in:
Autor*in:

Polyakov, A.Y. [verfasserIn]

Smirnov, N.B.

Govorkov, A.V.

Danilin, V.N.

Zhukova, T.A.

Luo, B.

Ren, F.

Gila, B.P.

Onstine, A.H.

Format:

Artikel

Erschienen:

2003

Umfang:

3

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics letters - Melville, NY : AIP, 1962, 83(2003), 13, Seite 2608-2610

Übergeordnetes Werk:

volume:83 ; year:2003 ; number:13 ; pages:2608-2610 ; extent:3

Katalog-ID:

OLC165017117X

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