Stable TiO2-Pt electrode structure for lead containing ferroelectric thick films on silicon MEMS structures

Gespeichert in:
Autor*in:

Duval, F.F.C. [verfasserIn]

Dorey, R.A.

Haigh, R.H.

Whatmore, R.W.

Format:

Artikel

Erschienen:

2003

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Thin solid films - Amsterdam [u.a.] Elsevier, 1967, 444(2003), 1, Seite 235-240

Übergeordnetes Werk:

volume:444 ; year:2003 ; number:1 ; pages:235-240 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1651824339

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