High-Speed Bit-Error-Rate Measurement System for High-Temperature Superconducting Digital Circuits

Gespeichert in:
Autor*in:

Horibe, M. [verfasserIn]

Tarutani, Y.

Tanabe, K.

Format:

Artikel

Erschienen:

2003

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: IEEE transactions on applied superconductivity - New York, NY : Inst., 1991, 13(2003), 4, Seite 3833-3838

Übergeordnetes Werk:

volume:13 ; year:2003 ; number:4 ; pages:3833-3838 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1656786397

Nicht das Richtige dabei?

Schreiben Sie uns!