Propagation loss measurement for surface plasmon-polariton modes at metal waveguides on semiconductor substrates

Gespeichert in:
Autor*in:

Goto, Touichiro [verfasserIn]

Katagiri, Yoshitada

Fukuda, Hiroshi

Shinojima, Hiroyuki

Nakano, Yoshiaki

Kobayashi, Ikutaro

Mitsuoka, Yasuyuki

Format:

Artikel

Erschienen:

2004

Umfang:

3

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics letters - Melville, NY : AIP, 1962, 84(2004), 6, Seite 852-854

Übergeordnetes Werk:

volume:84 ; year:2004 ; number:6 ; pages:852-854 ; extent:3

Katalog-ID:

OLC1657989933

Nicht das Richtige dabei?

Schreiben Sie uns!