Hole transport and carrier lifetime in InN epilayers

Gespeichert in:
Autor*in:

Chen, Fei [verfasserIn]

Cartwright, A.N.

Lu, Hai

Schaff, William J.

Format:

Artikel

Erschienen:

2005

Umfang:

1

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics letters - Melville, NY : AIP, 1962, 87(2005), 21, Seite 212104

Übergeordnetes Werk:

volume:87 ; year:2005 ; number:21 ; pages:212104 ; extent:1

Katalog-ID:

OLC1687982309

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