The Behaviour of Minority Carriers in Thermally Stimulated Studies of Si-SiO2 Interface

Gespeichert in:
Autor*in:

Gomenyuk, Yu V. [verfasserIn]

Lysenko, V.S.

Osiyuk, I.N.

Tyagulskii, I.P.

Format:

Artikel

Erschienen:

1993

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Physica status solidi. A, Applications and materials science - Berlin : Wiley-VCH, 1970, 140(1993), 1, Seite 173-178

Übergeordnetes Werk:

volume:140 ; year:1993 ; number:1 ; pages:173-178 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1698776128

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