Evaluation and application of a very high performance chemically amplified resist for electron-beam lithography

Gespeichert in:
Autor*in:

Lee, K.Y. [verfasserIn]

Huang, W.S.

Format:

Artikel

Erschienen:

1993

Systematik:

Umfang:

5

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of vacuum science and technology / B - New York, NY : Inst., 1983, 11(1993), 6, Seite 2807-2811

Übergeordnetes Werk:

volume:11 ; year:1993 ; number:6 ; pages:2807-2811 ; extent:5

Katalog-ID:

OLC1700399608

Nicht das Richtige dabei?

Schreiben Sie uns!