Optical, photoelectrical, deep level and photorefractive characterization of CdTe:V

Gespeichert in:
Autor*in:

Zielinger, J.P. [verfasserIn]

Tapiero, M.

Guellil, Z.

Roosen, G.

Delaye, P.

Launay, J.C.

Mazoyer, V.

Format:

Artikel

Erschienen:

1993

Systematik:

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Materials science and engineering / B - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1988, 16(1993), 1-3, Seite 273-278

Übergeordnetes Werk:

volume:16 ; year:1993 ; number:1-3 ; pages:273-278 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1704608678

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