XRD characterization of multilayered systems

Gespeichert in:
Autor*in:

Scardi, P. [verfasserIn]

Lutterotti, L.

Tomasi, A.

Format:

Artikel

Erschienen:

1993

Umfang:

5

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Thin solid films - Amsterdam [u.a.] Elsevier, 1967, 236(1993), 1-2, Seite 130-134

Übergeordnetes Werk:

volume:236 ; year:1993 ; number:1-2 ; pages:130-134 ; extent:5

Katalog-ID:

OLC1704725194

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