Observation of Very High Peak-to-Valley Current Ratio (>= 9.4) in Amorphous Silicon-Silicon-Carbide Double Barrier Structure with Barrier Enhancement Layer

Gespeichert in:
Autor*in:

Fang, Y.K. [verfasserIn]

Chen, K.-H.

Liu, C.-R.

Hwang, J.-D.

Wu, K.-S.

Liou, W.-R.

Format:

Artikel

Erschienen:

1994

Umfang:

4

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: IEEE journal of quantum electronics - New York, NY : IEEE, 1965, 30(1994), 10, Seite 2293-2296

Übergeordnetes Werk:

volume:30 ; year:1994 ; number:10 ; pages:2293-2296 ; extent:4

Katalog-ID:

OLC1713797194

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