Whole-field determination of surface roughness by speckle correlation

Gespeichert in:
Autor*in:

Tay, C.J. [verfasserIn]

Toh, S.L.

Shang, H.M.

Zhang, J.B.

Format:

Artikel

Erschienen:

1995

Umfang:

12

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied optics - Washington, DC : Soc., 1962, 34(1995), 13, Seite 2324-2335

Übergeordnetes Werk:

volume:34 ; year:1995 ; number:13 ; pages:2324-2335 ; extent:12

Katalog-ID:

OLC1746945370

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