Characterization of tantalum oxynitride thin films as high-temperature strain gauges

Gespeichert in:
Autor*in:

Ayerdi, I. [verfasserIn]

Castaño, E.

Garcia-Alonso, A.

Gracia, F.J.

Format:

Artikel

Erschienen:

1995

Umfang:

4

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Sensors and actuators / A - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1990, 46(1995), 1-3, Seite 218-221

Übergeordnetes Werk:

volume:46 ; year:1995 ; number:1-3 ; pages:218-221 ; extent:4

Katalog-ID:

OLC1749510170

Nicht das Richtige dabei?

Schreiben Sie uns!