Determination of depth profiles of E' defects in irradiated vitreous silica by electron paramagnetic-resonance imaging

Gespeichert in:
Autor*in:

Sueki, Minoru [verfasserIn]

Austin, William R.

Zhang, Lin

Kerwin, David B.

Leisure, Robert G.

Eaton, Gareth R.

Eaton, Sandra S.

Format:

Artikel

Erschienen:

1995

Umfang:

5

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of applied physics - Melville, NY : AIP, 1937, 77(1995), 2, Seite 790-794

Übergeordnetes Werk:

volume:77 ; year:1995 ; number:2 ; pages:790-794 ; extent:5

Katalog-ID:

OLC1749757338

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