Investigation of correlation between the microstructure and electrical properties of sol-gel derived ZnO based thin films

Gespeichert in:
Autor*in:

Zhu, M.W. [verfasserIn]

Gong, J.

Sun, C.

Xia, J.H.

Jiang, X.

Format:

Artikel

Erschienen:

2008

Umfang:

1

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of applied physics - Melville, NY : AIP, 1937, 104(2008), 7, Seite 73113

Übergeordnetes Werk:

volume:104 ; year:2008 ; number:7 ; pages:73113 ; extent:1

Katalog-ID:

OLC1802901744

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