A quantitative model for the interpretation of RAV (rocking curve azimuthal variation) results from heteroepitaxial semiconductor layers

Gespeichert in:
Autor*in:

Lai, K.Y. [verfasserIn]

Paskova, T.

Wheeler, V.D.

Grenko, J.A.

Johnson, M.A.L.

Udwary, K.

Preble, E.A.

Evans, K.R.

Format:

Artikel

Erschienen:

2010

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of crystal growth - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1967, 312(2010), 7 vom: 15. März, Seite 886-892

Übergeordnetes Werk:

volume:312 ; year:2010 ; number:7 ; day:15 ; month:03 ; pages:886-892 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1836529856

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