REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation

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Autor*in:	Ramel, David [verfasserIn] Conseil, Robin Bailly, Yannick Hervé, Philippe

Format:	Artikel

Erschienen:	2010

Umfang:	3

Übergeordnetes Werk:	Enthalten in: Revue générale de l'électricité - Paris, 1917, (2010), 3, Seite 79-82
Übergeordnetes Werk:	year:2010 ; number:3 ; pages:79-82 ; extent:3

Katalog-ID:	OLC1839393246

Internformat


LEADER	01000caa a22002652 4500
001	OLC1839393246
003	DE-627
005	20220219113649.0
007	tu
008	100414s2010 xx \|\|\|\|\| 00\| \|\|und c
028	5	2	\|a sw100413_1
035			\|a (DE-627)OLC1839393246
035			\|a (DE-599)GBVOLC1839393246
040			\|a DE-627 \|b ger \|c DE-627 \|e rakwb
082	0	4	\|a 620
084			\|a 53.00 \|2 bkl
100	1		\|a Ramel, David \|e verfasserin \|4 aut
245	1	0	\|a REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation
264		1	\|c 2010
300			\|a 3
336			\|a Text \|b txt \|2 rdacontent
337			\|a ohne Hilfsmittel zu benutzen \|b n \|2 rdamedia
338			\|a Band \|b nc \|2 rdacarrier
700	1		\|a Conseil, Robin \|4 oth
700	1		\|a Bailly, Yannick \|4 oth
700	1		\|a Hervé, Philippe \|4 oth
773	0	8	\|i Enthalten in \|t Revue générale de l'électricité \|d Paris, 1917 \|g (2010), 3, Seite 79-82 \|w (DE-627)129598550 \|w (DE-600)241045-X \|w (DE-576)015091821 \|x 0035-3116 \|7 nnns
773	1	8	\|g year:2010 \|g number:3 \|g pages:79-82 \|g extent:3
912			\|a GBV_USEFLAG_A
912			\|a SYSFLAG_A
912			\|a GBV_OLC
912			\|a SSG-OLC-TEC
936	b	k	\|a 53.00 \|q AVZ
951			\|a AR
952			\|j 2010 \|e 3 \|h 79-82 \|g 3

Indexfelder

author_variant	d r dr
matchkey_str	article:00353116:2010----::erstoeetcnqeotqepulnutisrelnnutilitrrmreepclsslndsehiu
hierarchy_sort_str	2010
bklnumber	53.00
publishDate	2010
allfields	sw100413_1 (DE-627)OLC1839393246 (DE-599)GBVOLC1839393246 DE-627 ger DE-627 rakwb 620 53.00 bkl Ramel, David verfasserin aut REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation 2010 3 Text txt rdacontent ohne Hilfsmittel zu benutzen n rdamedia Band nc rdacarrier Conseil, Robin oth Bailly, Yannick oth Hervé, Philippe oth Enthalten in Revue générale de l'électricité Paris, 1917 (2010), 3, Seite 79-82 (DE-627)129598550 (DE-600)241045-X (DE-576)015091821 0035-3116 nnns year:2010 number:3 pages:79-82 extent:3 GBV_USEFLAG_A SYSFLAG_A GBV_OLC SSG-OLC-TEC 53.00 AVZ AR 2010 3 79-82 3
spelling	sw100413_1 (DE-627)OLC1839393246 (DE-599)GBVOLC1839393246 DE-627 ger DE-627 rakwb 620 53.00 bkl Ramel, David verfasserin aut REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation 2010 3 Text txt rdacontent ohne Hilfsmittel zu benutzen n rdamedia Band nc rdacarrier Conseil, Robin oth Bailly, Yannick oth Hervé, Philippe oth Enthalten in Revue générale de l'électricité Paris, 1917 (2010), 3, Seite 79-82 (DE-627)129598550 (DE-600)241045-X (DE-576)015091821 0035-3116 nnns year:2010 number:3 pages:79-82 extent:3 GBV_USEFLAG_A SYSFLAG_A GBV_OLC SSG-OLC-TEC 53.00 AVZ AR 2010 3 79-82 3
allfields_unstemmed	sw100413_1 (DE-627)OLC1839393246 (DE-599)GBVOLC1839393246 DE-627 ger DE-627 rakwb 620 53.00 bkl Ramel, David verfasserin aut REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation 2010 3 Text txt rdacontent ohne Hilfsmittel zu benutzen n rdamedia Band nc rdacarrier Conseil, Robin oth Bailly, Yannick oth Hervé, Philippe oth Enthalten in Revue générale de l'électricité Paris, 1917 (2010), 3, Seite 79-82 (DE-627)129598550 (DE-600)241045-X (DE-576)015091821 0035-3116 nnns year:2010 number:3 pages:79-82 extent:3 GBV_USEFLAG_A SYSFLAG_A GBV_OLC SSG-OLC-TEC 53.00 AVZ AR 2010 3 79-82 3
allfieldsGer	sw100413_1 (DE-627)OLC1839393246 (DE-599)GBVOLC1839393246 DE-627 ger DE-627 rakwb 620 53.00 bkl Ramel, David verfasserin aut REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation 2010 3 Text txt rdacontent ohne Hilfsmittel zu benutzen n rdamedia Band nc rdacarrier Conseil, Robin oth Bailly, Yannick oth Hervé, Philippe oth Enthalten in Revue générale de l'électricité Paris, 1917 (2010), 3, Seite 79-82 (DE-627)129598550 (DE-600)241045-X (DE-576)015091821 0035-3116 nnns year:2010 number:3 pages:79-82 extent:3 GBV_USEFLAG_A SYSFLAG_A GBV_OLC SSG-OLC-TEC 53.00 AVZ AR 2010 3 79-82 3
allfieldsSound	sw100413_1 (DE-627)OLC1839393246 (DE-599)GBVOLC1839393246 DE-627 ger DE-627 rakwb 620 53.00 bkl Ramel, David verfasserin aut REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation 2010 3 Text txt rdacontent ohne Hilfsmittel zu benutzen n rdamedia Band nc rdacarrier Conseil, Robin oth Bailly, Yannick oth Hervé, Philippe oth Enthalten in Revue générale de l'électricité Paris, 1917 (2010), 3, Seite 79-82 (DE-627)129598550 (DE-600)241045-X (DE-576)015091821 0035-3116 nnns year:2010 number:3 pages:79-82 extent:3 GBV_USEFLAG_A SYSFLAG_A GBV_OLC SSG-OLC-TEC 53.00 AVZ AR 2010 3 79-82 3
source	Enthalten in Revue générale de l'électricité (2010), 3, Seite 79-82 year:2010 number:3 pages:79-82 extent:3
sourceStr	Enthalten in Revue générale de l'électricité (2010), 3, Seite 79-82 year:2010 number:3 pages:79-82 extent:3
format_phy_str_mv	Article
institution	findex.gbv.de
dewey-raw	620
isfreeaccess_bool	false
container_title	Revue générale de l'électricité
authorswithroles_txt_mv	Ramel, David @@aut@@ Conseil, Robin @@oth@@ Bailly, Yannick @@oth@@ Hervé, Philippe @@oth@@
publishDateDaySort_date	2010-01-01T00:00:00Z
hierarchy_top_id	129598550
dewey-sort	3620
id	OLC1839393246
fullrecord_marcxml	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01000caa a22002652 4500</leader><controlfield tag="001">OLC1839393246</controlfield><controlfield tag="003">DE-627</controlfield><controlfield tag="005">20220219113649.0</controlfield><controlfield tag="007">tu</controlfield><controlfield tag="008">100414s2010 xx \|\|\|\|\| 00\| \|\|und c</controlfield><datafield tag="028" ind1="5" ind2="2"><subfield code="a">sw100413_1</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-627)OLC1839393246</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)GBVOLC1839393246</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-627</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="c">DE-627</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">620</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">53.00</subfield><subfield code="2">bkl</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Ramel, David</subfield><subfield code="e">verfasserin</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">2010</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Text</subfield><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ohne Hilfsmittel zu benutzen</subfield><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Band</subfield><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Conseil, Robin</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Bailly, Yannick</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Hervé, Philippe</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="773" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Enthalten in</subfield><subfield code="t">Revue générale de l'électricité</subfield><subfield code="d">Paris, 1917</subfield><subfield code="g">(2010), 3, Seite 79-82</subfield><subfield code="w">(DE-627)129598550</subfield><subfield code="w">(DE-600)241045-X</subfield><subfield code="w">(DE-576)015091821</subfield><subfield code="x">0035-3116</subfield><subfield code="7">nnns</subfield></datafield><datafield tag="773" ind1="1" ind2="8"><subfield code="g">year:2010</subfield><subfield code="g">number:3</subfield><subfield code="g">pages:79-82</subfield><subfield code="g">extent:3</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">GBV_USEFLAG_A</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">SYSFLAG_A</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">GBV_OLC</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">SSG-OLC-TEC</subfield></datafield><datafield tag="936" ind1="b" ind2="k"><subfield code="a">53.00</subfield><subfield code="q">AVZ</subfield></datafield><datafield tag="951" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">AR</subfield></datafield><datafield tag="952" ind1=" " ind2=" "><subfield code="j">2010</subfield><subfield code="e">3</subfield><subfield code="h">79-82</subfield><subfield code="g">3</subfield></datafield></record></collection>
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01000caa a22002652 4500</leader><controlfield tag="001">OLC1839393246</controlfield><controlfield tag="003">DE-627</controlfield><controlfield tag="005">20220219113649.0</controlfield><controlfield tag="007">tu</controlfield><controlfield tag="008">100414s2010 xx \|\|\|\|\| 00\| \|\|und c</controlfield><datafield tag="028" ind1="5" ind2="2"><subfield code="a">sw100413_1</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-627)OLC1839393246</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)GBVOLC1839393246</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-627</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="c">DE-627</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">620</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">53.00</subfield><subfield code="2">bkl</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Ramel, David</subfield><subfield code="e">verfasserin</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">2010</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Text</subfield><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ohne Hilfsmittel zu benutzen</subfield><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Band</subfield><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Conseil, Robin</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Bailly, Yannick</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Hervé, Philippe</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="773" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Enthalten in</subfield><subfield code="t">Revue générale de l'électricité</subfield><subfield code="d">Paris, 1917</subfield><subfield code="g">(2010), 3, Seite 79-82</subfield><subfield code="w">(DE-627)129598550</subfield><subfield code="w">(DE-600)241045-X</subfield><subfield code="w">(DE-576)015091821</subfield><subfield code="x">0035-3116</subfield><subfield code="7">nnns</subfield></datafield><datafield tag="773" ind1="1" ind2="8"><subfield code="g">year:2010</subfield><subfield code="g">number:3</subfield><subfield code="g">pages:79-82</subfield><subfield code="g">extent:3</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">GBV_USEFLAG_A</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">SYSFLAG_A</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">GBV_OLC</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">SSG-OLC-TEC</subfield></datafield><datafield tag="936" ind1="b" ind2="k"><subfield code="a">53.00</subfield><subfield code="q">AVZ</subfield></datafield><datafield tag="951" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">AR</subfield></datafield><datafield tag="952" ind1=" " ind2=" "><subfield code="j">2010</subfield><subfield code="e">3</subfield><subfield code="h">79-82</subfield><subfield code="g">3</subfield></datafield></record></collection>
author	Ramel, David
spellingShingle	Ramel, David ddc 620 bkl 53.00 REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation
authorStr	Ramel, David
ppnlink_with_tag_str_mv	@@773@@(DE-627)129598550
format	Article
dewey-ones	620 - Engineering & allied operations
delete_txt_mv	keep
author_role	aut
collection	OLC
remote_str	false
illustrated	Not Illustrated
issn	0035-3116
topic_title	620 53.00 bkl REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation
topic	ddc 620 bkl 53.00
topic_unstemmed	ddc 620 bkl 53.00
topic_browse	ddc 620 bkl 53.00
format_facet	Aufsätze Gedruckte Aufsätze
format_main_str_mv	Text Zeitschrift/Artikel
carriertype_str_mv	nc
author2_variant	r c rc y b yb p h ph
hierarchy_parent_title	Revue générale de l'électricité
hierarchy_parent_id	129598550
dewey-tens	620 - Engineering
hierarchy_top_title	Revue générale de l'électricité
isfreeaccess_txt	false
familylinks_str_mv	(DE-627)129598550 (DE-600)241045-X (DE-576)015091821
title	REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation
ctrlnum	(DE-627)OLC1839393246 (DE-599)GBVOLC1839393246
title_full	REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation
author_sort	Ramel, David
journal	Revue générale de l'électricité
journalStr	Revue générale de l'électricité
isOA_bool	false
dewey-hundreds	600 - Technology
recordtype	marc
publishDateSort	2010
contenttype_str_mv	txt
container_start_page	79
author_browse	Ramel, David
physical	3
class	620 53.00 bkl
format_se	Aufsätze
author-letter	Ramel, David
dewey-full	620
title_sort	repères - méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << sur ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - présentation
title_auth	REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation
collection_details	GBV_USEFLAG_A SYSFLAG_A GBV_OLC SSG-OLC-TEC
container_issue	3
title_short	REPÈRES - Méthodes et techniques optiques pour l'industrie - << Sur Ie plan industriel, l'interférométrie de speckles est l'une des techniques de mesure les plus utilisées - Présentation
remote_bool	false
author2	Conseil, Robin Bailly, Yannick Hervé, Philippe
author2Str	Conseil, Robin Bailly, Yannick Hervé, Philippe
ppnlink	129598550
mediatype_str_mv	n
isOA_txt	false
hochschulschrift_bool	false
author2_role	oth oth oth
up_date	2024-07-03T19:09:28.866Z
_version_	1803586129238163456
score	7.4005775

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