Distinguishing crystallographic misorientations of lanthanum zirconate epilayers on nickel substrates by electron backscatter diffraction

Gespeichert in:
Autor*in:

Ji, Yuan [verfasserIn]

Wang, Li

Zhang, Yinqi

Wei, Bin

Wang, Jianhong

Cheng, Yanling

Suo, Hongli

Format:

Artikel

Erschienen:

2011

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Ultramicroscopy - New York, NY [u.a.] : Elsevier, 1975, 111(2011), 5 vom: Apr., Seite 314-320

Übergeordnetes Werk:

volume:111 ; year:2011 ; number:5 ; month:04 ; pages:314-320 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1863207430

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