2 dimensional electron gas uniformity of GaN HFET layers on SiC

Gespeichert in:
Autor*in:

Wallis, D.J. [verfasserIn]

Wright, P.J.

Soley, D.E.J.

Koker, L.

Uren, M.J.

Martin, T.

Format:

Artikel

Erschienen:

2012

Umfang:

4

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of crystal growth - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1967, 338(2012), 1 vom: 1. Jan., Seite 125-129

Übergeordnetes Werk:

volume:338 ; year:2012 ; number:1 ; day:1 ; month:01 ; pages:125-129 ; extent:4

Katalog-ID:

OLC1886084270

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