Module level fault diagnosis for analog circuits based on system identification and genetic algorithm

Gespeichert in:
Autor*in:

Luo, Hui [verfasserIn]

Wang, Youren

Lin, Hua

Jiang, Yuanyuan

Format:

Artikel

Erschienen:

2012

Umfang:

9

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Measurement - London : The Institute of Measurement and Control, 1983, 45(2012), 4 vom: Mai, Seite 769-778

Übergeordnetes Werk:

volume:45 ; year:2012 ; number:4 ; month:05 ; pages:769-778 ; extent:9

Katalog-ID:

OLC1889065196

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