Scratch Based Technique Quantifies Adhesion Strength at Micro and Nanoscales

Gespeichert in:
Autor*in:

Lahiri, Debrupa [verfasserIn]

Agarwal, Arvind

Format:

Artikel

Erschienen:

2012

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Advanced materials & processes - Materials Park, Ohio : ASM, 1985, 170(2012), 4, Seite 22-28

Übergeordnetes Werk:

volume:170 ; year:2012 ; number:4 ; pages:22-28 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1894364015

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