Probing the sensitivity of electron wave interference to disorder-induced scattering in solid-state devices (6 pages) 195319

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Autor*in:

Scannell, B C [verfasserIn]

Pilgrim, I

See, A M

Montgomery, R D

Morse, P K

Fairbanks, M S

Marlow, C A

Linke, H

Farrer, I

Ritchie, D A

Hamilton, A R

Micolich, A P

Eaves, L

Taylor, R P

Format:

Artikel

Erschienen:

2012

Systematik:

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Physical review / B - Ridge, NY : APS, 1970, 85(2012), 19

Übergeordnetes Werk:

volume:85 ; year:2012 ; number:19

Katalog-ID:

OLC1899409602

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