Identification of nanoscale structure and morphology reconstruction in oxidized a-SiC:H thin films

Gespeichert in:
Autor*in:

Vasin, A.V. [verfasserIn]

Rusavsky, A.V.

Nazarov, A.N.

Lysenko, V.S.

Lytvyn, P.M.

Strelchuk, V.V.

Kholostov, K.I.

Bondarenko, V.P.

Starik, S.P.

Format:

Artikel

Erschienen:

2012

Umfang:

4

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied surface science - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1985, 260(2012) vom: 1. Nov., Seite 73-77

Übergeordnetes Werk:

volume:260 ; year:2012 ; day:1 ; month:11 ; pages:73-77 ; extent:4

Katalog-ID:

OLC1903859271

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