Electrical interconnection in anodic bonding of silicon wafer to LTCC wafer using highly compliant porous bumps made from submicron gold particles

Gespeichert in:
Autor*in:

Tanaka, Shuji [verfasserIn]

Mohri, Mamoru

Ogashiwa, Toshinori

Fukushi, Hideyuki

Tanaka, Katsunao

Nakamura, Daisuke

Nishimori, Takashi

Esashi, Masayoshi

Format:

Artikel

Erschienen:

2012

Umfang:

5

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Sensors and actuators / A - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1990, 188(2012) vom: Dez., Seite 198-202

Übergeordnetes Werk:

volume:188 ; year:2012 ; month:12 ; pages:198-202 ; extent:5

Katalog-ID:

OLC1907540431

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