Improved Study of Temperature Dependence Equivalent Circuit Model for Supercapacitors

Gespeichert in:
Autor*in:

Liu, K [verfasserIn]

Zhu, C

Lu, R

Chan, C C

Format:

Artikel

Erschienen:

2013

Umfang:

5

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: IEEE transactions on plasma science - New York, NY : IEEE, 1973, 41(2013), 5, 1, Seite 1267-1271

Übergeordnetes Werk:

volume:41 ; year:2013 ; number:5 ; supplement:1 ; pages:1267-1271 ; extent:5

Katalog-ID:

OLC1921449608

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