High-resolution noise substitution to measure overfitting and validate resolution in 3D structure determination by single particle electron cryomicroscopy

Gespeichert in:
Autor*in:

Chen, Shaoxia [verfasserIn]

McMullan, Greg

Faruqi, Abdul R.

Murshudov, Garib N.

Short, Judith M.

Scheres, Sjors H.W.

Henderson, Richard

Format:

Artikel

Erschienen:

2013

Umfang:

12

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Ultramicroscopy - New York, NY [u.a.] : Elsevier, 1975, 135(2013) vom: Dez., Seite 24-35

Übergeordnetes Werk:

volume:135 ; year:2013 ; month:12 ; pages:24-35 ; extent:12

Katalog-ID:

OLC1930693958

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