Measurements of the optical absorption coefficient of Ar8+ ion implanted silicon layers using the photothermal radiometry and the modulated free carrier absorption methods

Gespeichert in:
Autor*in:

Chrobak, Ł. [verfasserIn]

Maliński, M.

Pawlak, M.

Format:

Artikel

Erschienen:

2014

Umfang:

5

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Infrared physics & technology - Oxford [u.a.] : Pergamon Press, 1994, 67(2014) vom: Nov., Seite 604-608

Übergeordnetes Werk:

volume:67 ; year:2014 ; month:11 ; pages:604-608 ; extent:5

Katalog-ID:

OLC1953860281

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