Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film

Gespeichert in:
Autor*in:

Zeilinger, A [verfasserIn]

Daniel, R

Schöberl, T

Stefenelli, M

Sartory, B

Keckes, J

Mitterer, C

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2014

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Thin solid films - Amsterdam [u.a.] Elsevier, 1967, (2014)

Übergeordnetes Werk:

year:2014

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1016/j.tsf.2014.10.106

Katalog-ID:

OLC1965301800

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