High-Breakdown, High- f} Multiport Stacked-Transistor Topologies for the -Band Power Amplifiers

Effect of silicon technology limitations, including transistor nonidealities, layout parasitics, and low-quality factor on-chip passive components on millimeter wave stacked switching power amplifiers operating at the <inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">{W} </tex-mat...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Datta, Kunal [verfasserIn]

Hashemi, Hossein

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2017

Schlagwörter:

Heterojunction bipolar transistors

Class-E

transmitter

Silicon

power amplifier (PA)

Gain

Silicon germanium

Topology

millimeter wave (mm-wave)

silicon germanium (SiGe)

Power generation

HBT

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: IEEE journal of solid state circuits - New York, NY : IEEE, 1966, 52(2017), 5, Seite 1305-1319

Übergeordnetes Werk:

volume:52 ; year:2017 ; number:5 ; pages:1305-1319

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DOI / URN:

10.1109/JSSC.2016.2641464

Katalog-ID:

OLC1992323879

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