Moving towards the magnetoelectric graphene transistor

The interfacial charge transfer between mechanically exfoliated few-layer graphene and Cr2O3 (0001) surfaces has been investigated. Electrostatic force microscopy and Kelvin probe force microscopy studies point to hole doping of few-layer graphene, with up to a 150 meV shift in the Fermi level, an a...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Cao, Shi [verfasserIn]

Xiao, Zhiyong

Kwan, Chun-Pui

Zhang, Kai

Bird, Jonathan P

Wang, Lu

Mei, Wai-Ning

Hong, Xia

Dowben, P. A

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2017

Rechteinformationen:

Nutzungsrecht: © Author(s)

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics letters - Melville, NY : AIP, 1962, 111(2017), 18

Übergeordnetes Werk:

volume:111 ; year:2017 ; number:18

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DOI / URN:

10.1063/1.4999643

Katalog-ID:

OLC1996832697

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