Surface modification and enhanced multiferroic behavior of $ BiFe_{0.25} $$ Cr_{0.75} $$ O_{3} $ films with different thickness over Pt(111)/Ti/$ SiO_{2} $/Si substrate

Abstract Polycrystalline $ BiFe_{0.25} $$ Cr_{0.75} $$ O_{3} $ thin films have been fabricated via a chemical deposition technique at various thicknesses (60-, 130-, 190-, 240 nm). The effect of Cr substitution on $ BiFeO_{3} $ structures have been briefly discussed by performing X-ray diffraction a...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

William, R. V. [verfasserIn]

Sivaprakash, P.

Marikani, A.

Raghavendra Reddy, V.

Arumugam, S.

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2017

Anmerkung:

© Springer Science+Business Media, LLC, part of Springer Nature 2017

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of materials science / Materials in electronics - Springer US, 1990, 29(2017), 6 vom: 07. Dez., Seite 4457-4465

Übergeordnetes Werk:

volume:29 ; year:2017 ; number:6 ; day:07 ; month:12 ; pages:4457-4465

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1007/s10854-017-8393-1

Katalog-ID:

OLC2026342172

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