Some spectral response characteristics of ZnTe thin films

Abstract Zinc telluride thin films have been grown at room temperature and higher temperature substrates by thermal evaporation technique in a vacuum of $ 10^{-6} $ torr. A main peak in the photocurrent is observed at 781 nm (1.58 eV) with two lower amplitude peaks on the lower wavelength side and o...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Sarma, R. [verfasserIn]

Mazumdar, N.

Das, H. L.

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2006

Schlagwörter:

ZnTe thin films

photocurrent

spectral response

Anmerkung:

© Indian Academy of Sciences 2006

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Bulletin of materials science - Springer India, 1979, 29(2006), 1 vom: Feb., Seite 15-16

Übergeordnetes Werk:

volume:29 ; year:2006 ; number:1 ; month:02 ; pages:15-16

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1007/BF02709348

Katalog-ID:

OLC2055197681

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