Size quantization of electronic states in very thin platinum films

Abstract The Quantum Size Effect (QSE) is expected to exist in metal films. It has been discussed in a number of theoretical papers. The experimental verification is difficult because of the very short Fermi wave length of the charge carriers in metals. Surface roughness of the films and diffuse sca...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Fischer, G. [verfasserIn]

Hoffmann, H.

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1980

Schlagwörter:

Surface Roughness

Charge Carrier

Film Surface

Fermi Surface

Metal Film

Anmerkung:

© Springer-Verlag 1980

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Zeitschrift für Physik - Springer-Verlag, 1975, 39(1980), 4 vom: Dez., Seite 287-297

Übergeordnetes Werk:

volume:39 ; year:1980 ; number:4 ; month:12 ; pages:287-297

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1007/BF01305827

Katalog-ID:

OLC2072254752

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