Muon diffusion and level crossing in copper

Abstract We have studied the quantum diffusion of positive muons in pure copper over the temperature range 12 mK≤T≤150 K using weak longitudinal field μSR. Below 150 K, this technique has proved to be the most sensitive to the muon hop rate. Our final results for the behaviour of the muon hop rate a...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Luke, G. M. [verfasserIn]

Brewer, J. H.

Kreitzman, S. R.

Noakes, D. R.

Celio, M.

Kadono, R.

Ansaldo, E. J.

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1991

Schlagwörter:

Copper

Thin Film

Octahedral Site

Interaction Strength

Pure Copper

Anmerkung:

© J.C. Baltzer A.G. Scientific Publishing Company 1990

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Hyperfine interactions - Kluwer Academic Publishers, 1975, 64(1991), 1-4 vom: Feb., Seite 721-727

Übergeordnetes Werk:

volume:64 ; year:1991 ; number:1-4 ; month:02 ; pages:721-727

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1007/BF02396209

Katalog-ID:

OLC2076365877

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