A study on mass spectrometry of methylated [60] fullerenes using the “in-beam” electron impact technique

Abstract Mass spectra of the methylated [60]fullerenes were obtained by EI mass spectrometry using “desorption” or “in-beam” technique. The mass spectra of the methylated fullerenes, $ C_{60} $$ Me_{n} $, have the molecular ion peak $ M^{+} $ indicating that the product is stable under the MS (EI) c...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Al-Matar, Hamad M. [verfasserIn]

Badawy, Sayed M.

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2005

Schlagwörter:

Fullerene

Kuwait

Successive Loss

Electron Impact Mass Spectrometry

Direct Insertion Probe

Anmerkung:

© American Society for Mass Spectrometry 2005

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of the American Society for Mass Spectrometry - Springer-Verlag, 1990, 16(2005), 8 vom: 01. Aug., Seite 1311-1315

Übergeordnetes Werk:

volume:16 ; year:2005 ; number:8 ; day:01 ; month:08 ; pages:1311-1315

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1016/j.jasms.2005.03.022

Katalog-ID:

OLC2097664210

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