Damage accumulation in diamond during ion implantation

Abstract Single-crystalline diamond plates were implanted by $ He^{+} $ ions with a set of energies and fluences that ensure uniform radiation damage (RD) in a 670-nm-thick layer. Implantation is carried out at a wide range of fluences, which allows one to cover the range of RD levels from very low...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Khmelnitsky, Roman A. [verfasserIn]

Dravin, Valeriy A.

Tal, Alexey A.

Zavedeev, Evgeniy V.

Khomich, Andrey A.

Khomich, Alexander V.

Alekseev, Alexander A.

Terentiev, Sergey A.

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2015

Systematik:

Anmerkung:

© The Materials Research Society 2015

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of materials research - Springer International Publishing, 1986, 30(2015), 9 vom: 01. Mai, Seite 1583-1592

Übergeordnetes Werk:

volume:30 ; year:2015 ; number:9 ; day:01 ; month:05 ; pages:1583-1592

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1557/jmr.2015.21

Katalog-ID:

OLC2119978204

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