The effect of annealing environments on the epitaxial recrystallization of ion-beam-amorphized $ SrTiO_{3} $

Abstract Time-resolved reflectivity and Rutherford backscattering spectroscopy were used to investigate the effects of regrowth environments on the thermally induced solid phase epitaxial (SPE) regrowth of amorphous near-surface layers produced by ion implantation of single-crystal $ SrTiO_{3} $. Wa...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Rankin, J. [verfasserIn]

McCallum, J. C.

Boatner, L. A.

Format:

Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1992

Systematik:

Anmerkung:

© The Materials Research Society 1992

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of materials research - Springer International Publishing, 1986, 7(1992), 3 vom: März

Übergeordnetes Werk:

volume:7 ; year:1992 ; number:3 ; month:03

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1557/JMR.1992.0717

Katalog-ID:

OLC2123057703

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