Molecular mapping of resistance gene to English grain aphid (Sitobion avenae F.) in Triticum durum wheat line C273

Abstract The English grain aphid, Sitobion avenae (Fabricius), is one of the most important insect pests causing substantial yield losses in wheat production in China and other grain-growing areas in the world. The efficient utilization of wheat genes for resistance to English grain aphid (EGA) prov...
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Gespeichert in:
Autor*in:

Liu, X. L. [verfasserIn]

Yang, X. F.

Wang, C. Y.

Wang, Y. J.

Zhang, H.

Ji, W. Q.

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2011

Schlagwörter:

Wheat Line

Bulk Segregant Analysis

Susceptible Parent

Single Dominant Gene

Susceptible Bulk

Anmerkung:

© Springer-Verlag 2011

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Theoretical and applied genetics - Berlin : Springer, 1929, 124(2011), 2 vom: 28. Sept., Seite 287-293

Übergeordnetes Werk:

volume:124 ; year:2011 ; number:2 ; day:28 ; month:09 ; pages:287-293

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1007/s00122-011-1704-7

Katalog-ID:

SPR001400274

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