Investigation of phase changes in $ Ge_{1} %$ Sb_{4} %$ Te_{7} $ films by single ultra-fast laser pulses

Abstract The phase transformations induced in a $ Ge_{1} %$ Sb_{4} %$ Te_{7} $ system by a femtosecond (fs) laser exposure were investigated. The system has a multilayer structure of 15 nm ZnS–$ SiO_{2} $/80 nm $ Ge_{1} %$ Sb_{4} %$ Te_{7} $/100 nm ZnS–$ SiO_{2} $/0.6 mm polycarbonate substrate. The...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Huang, S.Y. [verfasserIn]

Zhao, Z.J.

Sun, Z.

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2005

Schlagwörter:

Laser Pulse

Femtosecond Laser Pulse

Average Laser

Amorphous Background

Single Femtosecond Laser Pulse

Anmerkung:

© Springer-Verlag 2005

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics - Berlin : Springer, 1973, 82(2005), 3 vom: 24. Nov., Seite 529-533

Übergeordnetes Werk:

volume:82 ; year:2005 ; number:3 ; day:24 ; month:11 ; pages:529-533

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1007/s00339-005-3414-y

Katalog-ID:

SPR004088921

Nicht das Richtige dabei?

Schreiben Sie uns!