Optical near-field distribution in an asymmetrically illuminated tip–sample system for laser/STM nanopatterning

Abstract In surface nano-patterning using an atomic force microscope (AFM) tip in scanning tunnelling microscopy (STM) mode and illuminated by a laser, two controversial physical mechanisms exist in the literature: the field-enhancement (FE) model and the thermal-induced mechanical contact (TMC) mod...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Wang, Z.B. [verfasserIn]

Luk’yanchuk, B.S.

Li, L.

Crouse, P.L.

Liu, Z.

Dearden, G.

Watkins, K.G.

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2007

Schlagwörter:

Scan Tunnelling Microscopy

Sample System

Plasmonic Material

Plasmonic System

Power Loss Density

Anmerkung:

© Springer-Verlag 2007

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics - Berlin : Springer, 1973, 89(2007), 2 vom: 21. Juni, Seite 363-368

Übergeordnetes Werk:

volume:89 ; year:2007 ; number:2 ; day:21 ; month:06 ; pages:363-368

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1007/s00339-007-4114-6

Katalog-ID:

SPR004096126

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