The Mexican hat effect on the delamination buckling of a compressed thin film

Abstract Because of the interaction between film and substrate, the film buckling stress can vary significantly, depending on the delamination geometry, the film and substrate mechanical properties. The Mexican hat effect indicates such interaction. An analytical method is presented, and related dim...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Zhang, Yin [verfasserIn]

Liu, Yun [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2014

Schlagwörter:

Buckling

Delamination

Elastic foundation

Thin film

Compliant substrate

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Acta mechanica Sinica - Berlin : Springer, 1985, 30(2014), 6 vom: Dez., Seite 927-932

Übergeordnetes Werk:

volume:30 ; year:2014 ; number:6 ; month:12 ; pages:927-932

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Volltext

DOI / URN:

10.1007/s10409-014-0088-8

Katalog-ID:

SPR009903526

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