Correction to: $ Au^{2+} $-Implanted Regions in Silicon Visualized Using a Modulated Free-Carrier Absorption Method

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Gespeichert in:
Autor*in:

Maliński, M. [verfasserIn]

Chrobak, Ł. [verfasserIn]

Madej, W. [verfasserIn]

Kukharchyk, N. [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2019

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: International journal of thermophysics - New York, NY : Springer Science + Business Media B.V., 1980, 40(2019), 3 vom: 01. März

Übergeordnetes Werk:

volume:40 ; year:2019 ; number:3 ; day:01 ; month:03

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Volltext

DOI / URN:

10.1007/s10765-019-2494-4

Katalog-ID:

SPR013119567

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