A BIST Solution for Frequency Domain Characterization of Analog Circuits

Abstract This work presents an efficient implementation of a BIST solution for frequency characterization of analog systems. It allows a complete characterization in terms of magnitude and phase, including also harmonic distortion and offset measurements. Signal generation is performed using a modif...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Barragán, Manuel J. [verfasserIn]

Vázquez, Diego [verfasserIn]

Rueda, Adoración [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2010

Schlagwörter:

Analog BIST

Signal generator

Frequency response characterization

On-chip spectrum analyzer

On-chip network analyzer

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of electronic testing - Dordrecht [u.a.] : Springer Science + Business Media B.V, 1990, 26(2010), 4 vom: 21. Mai, Seite 429-441

Übergeordnetes Werk:

volume:26 ; year:2010 ; number:4 ; day:21 ; month:05 ; pages:429-441

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Volltext

DOI / URN:

10.1007/s10836-010-5158-7

Katalog-ID:

SPR01400660X

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