Elimination of bistability in constant-phase mode in atomic force microscopy

Abstract By presenting the phase properties of bistability in amplitude-modulation atomic force microscopy, we put forward a technique, the constant-phase mode, which may eliminate bistability. Using this approach, we keep the phase shift between driving and oscillation constant, slightly above −90°...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Li, YingZi [verfasserIn]

Qian, JianQiang [verfasserIn]

Li, XiaoFeng [verfasserIn]

Li, Yuan [verfasserIn]

Hua, BaoCheng [verfasserIn]

Yao, JunEn [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2012

Schlagwörter:

bistability

constant-phase mode

atomic force microscopy

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Chinese science bulletin - Beijing, China : Chinese Acad. of Sciences, 1997, 57(2012), 5 vom: 21. Jan., Seite 460-465

Übergeordnetes Werk:

volume:57 ; year:2012 ; number:5 ; day:21 ; month:01 ; pages:460-465

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Volltext

DOI / URN:

10.1007/s11434-011-4825-0

Katalog-ID:

SPR019462220

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