Metallic Multilayers and Epitaxy

Gespeichert in:
Autor*in:

Hong, Minghwei [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1987

Schlagwörter:

Marker Layer

Critical Layer Thickness

Spin Reorientation Transition

Spin Wave Mode

Binding Energy Shift

Anmerkung:

© TMS 1987

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: JOM - New York, NY : Springer Science + Business Media, 1989, 39(1987), 6 vom: Juni, Seite 26-27

Übergeordnetes Werk:

volume:39 ; year:1987 ; number:6 ; month:06 ; pages:26-27

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1007/BF03258057

Katalog-ID:

SPR022686592

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