Hierarchical crop yield linear model

Abstract This research investigates which statistical procedure—panel random effect model or hierarchical linear model accounts for the observed spatial random variation in crop yields. Identification of the statistical procedure is accomplished using Akaike information criteria, covariance test of...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Shaik, Saleem [verfasserIn]

Bhattacharjee, Sanjoy [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2015

Schlagwörter:

Crop yield model

Panel random effects model

Hierarchical linear model

AIC, covariance test

Out-of-sample performance

Crop yield normality

US county crop yields, 1957–2013

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Letters in spatial and resource sciences - Berlin : Springer, 2008, 9(2015), 2 vom: 24. Juni, Seite 219-231

Übergeordnetes Werk:

volume:9 ; year:2015 ; number:2 ; day:24 ; month:06 ; pages:219-231

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DOI / URN:

10.1007/s12076-015-0153-3

Katalog-ID:

SPR024214116

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