EROS II: A boosted time-of-flight reflectometer for multi-purposes applications at the Laboratoire Léon Brillouin

Abstract We present the characteristics and performances of the time-of-flight EROS reflectometer, located at Laboratoire Léon Brillouin (Saclay, France), which operates on the high-flux Orphée reactor. It is a versatile spectrometer with a horizontal geometry enabling air/liquid, air/solid and soli...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Cousin, F. [verfasserIn]

Ott, F.

Gibert, F.

Menelle, A.

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2011

Schlagwörter:

Silicon Wafer

Neutron Beam

Incoherent Scattering

Deuterated Water

Cold Source

Anmerkung:

© Società Italiana di Fisica and Springer 2011

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: The European physical journal - Berlin : Springer, 2011, 126(2011), 11 vom: 11. Nov.

Übergeordnetes Werk:

volume:126 ; year:2011 ; number:11 ; day:11 ; month:11

Links:

Volltext

DOI / URN:

10.1140/epjp/i2011-11109-6

Katalog-ID:

SPR031448054

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