A Systematic Characterization of Structural Brain Changes in Schizophrenia

Abstract A systematic characterization of the similarities and differences among different methods for detecting structural brain abnormalities in schizophrenia, such as voxel-based morphometry (VBM), tensor-based morphometry (TBM), and projection-based thickness (PBT), is important for understandin...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Ediri Arachchi, Wasana [verfasserIn]

Peng, Yanmin [verfasserIn]

Zhang, Xi [verfasserIn]

Qin, Wen [verfasserIn]

Zhuo, Chuanjun [verfasserIn]

Yu, Chunshui [verfasserIn]

Liang, Meng [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2020

Schlagwörter:

Voxel-based morphometry

Tensor-based morphometry

Deformation-based morphometry

Cortical thickness

Multivariate pattern analysis

Structural MRI

Schizophrenia

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Neuroscience bulletin - Cham : Springer, 2000, 36(2020), 10 vom: 03. Juni, Seite 1107-1122

Übergeordnetes Werk:

volume:36 ; year:2020 ; number:10 ; day:03 ; month:06 ; pages:1107-1122

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Volltext

DOI / URN:

10.1007/s12264-020-00520-8

Katalog-ID:

SPR041187032

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