X-ray photoelectron spectroscopy of uv laser irradiated sapphire and alumina

Abstract X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was performed in as-received, thermally annealed, and laser-irradiated sapphire and alumina specimens in order to study the effects of the different treatments on surface chemistry and properties. Laser irradiations with a 308 nm wavelength laser were...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Pedraza, A. J. [verfasserIn]

Park, J. W. [verfasserIn]

Meyer, H. M. [verfasserIn]

Braski, D. N. [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1994

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of materials research - Berlin : Springer, 1986, 9(1994), 9 vom: Sept., Seite 2251-2257

Übergeordnetes Werk:

volume:9 ; year:1994 ; number:9 ; month:09 ; pages:2251-2257

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Volltext

DOI / URN:

10.1557/JMR.1994.2251

Katalog-ID:

SPR041269128

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