Characterization Of Spin -on Glasses by Microindentation

Abstract Spin-on glasses are candidates in the microelectronics industry as low dielectric constant insulating layers. Spin-on glasses are very brittle materials. This paper discusses measurement problems as relevant to the characterization of a brittle material by the indentation technique. As for...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Simonyi, Eva E. [verfasserIn]

Lee, K. W. [verfasserIn]

Cook, Robert F. [verfasserIn]

Liniger, Eric G. [verfasserIn]

Speidell, James [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1998

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: MRS online proceedings library - Warrendale, Pa. : MRS, 1998, 511(1998), 1 vom: Jan., Seite 157-164

Übergeordnetes Werk:

volume:511 ; year:1998 ; number:1 ; month:01 ; pages:157-164

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Volltext

DOI / URN:

10.1557/PROC-511-157

Katalog-ID:

SPR041666119

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