Determination of Eigenstresses from Curvature Data

Abstract Curvature measurements are generally employed in conjunction with elementary structural analysis to estimate deposition stresses in miniaturized electro-mechanical systems. In this paper the validity of this procedure is discussed by presenting a closed form solution for a bilayer subject t...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Ferrari, Mauro [verfasserIn]

Weber, Marie [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1992

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: MRS online proceedings library - Warrendale, Pa. : MRS, 1998, 276(1992), 1 vom: 01. Juli, Seite 221-226

Übergeordnetes Werk:

volume:276 ; year:1992 ; number:1 ; day:01 ; month:07 ; pages:221-226

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Volltext

DOI / URN:

10.1557/PROC-276-221

Katalog-ID:

SPR041773810

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